
publié le 20 juin 2017 par Jean-Christophe DUCHATEAU
Une réunion d'information, organisée à Pau par le Cetim et la FIM, permet de présenter la métrologie de demain afin de fiabiliser la mesure des pièces.
Réalisez la mesure de vos pièces avec :
... grâce à la métrologie sans contact
Technopole Hélioparc,
Auditorium,
Pau (64)
Accueil des participants par Christian Le Gall, directeur des opérations de CM Adour et Tomo Adour, et Christine Desriac, déléguée régionale au Cetim
Présentation du nouvel ensemble Cetim, CM Adour et Tomo Adour, par Christian Le Gall
Les technologies et moyens de mesure existants, par Christian Le Gall, Gilles Jalabert et Sylvain Genot
Démonstration de numérisation sans contact, appareil de mesure Gom, par Sylvain Genot
La robotisation, automatisation du contrôle sur ligne de production, par Sylvain Genot
La numérisation et les drones, par Gilles Jalabert
La numérisation au micron, par Gilles Jalabert
Intégration et utilisation des méthodes de mesure optique pour le développement d'outillages composites hautes performances, par Romain Brault
Contrôle sans contact en atelier, par Philippe Ronot
Zeiss Dotscan : le 1 er capteur à lumière blanche sur MMT, par Pierre-Noël Campiglia
Débat et réponses aux questions des participants