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Congrès International de Métrologie CIM 2015 [1]

publié le 04 Sep 2015 par Jean-Christophe DUCHATEAU [2]

Objectifs :

  • Présenter les évolutions des techniques de mesure, les avancées R&D et leurs implications pour l’industrie.
  • Montrer comment la mesure améliore les processus industriels et la maîtrise des risques.

 

180 conférences, 6 tables rondes, une exposition des innovations  technologiques, 3 visites techniques. 1 000 participants venant d’une cinquantaine de pays sont attendus : 

  • Des utilisateurs de moyens de mesure,
  • Des responsables fiabilité et qualité, managers et décideurs,
  • Des constructeurs et prestataires,
  • Des enseignants et des chercheurs.

Lieu :

Congrès International de Métrologie 2015
1 place de la Porte de Versailles
75015 Paris

Date : 21 au 24 septembre 2015


En savoir plus : http://www.metrologie2015.com/ [3]

Icône PDF CIM 2015 - Programme complet [4]

URL source (modified on 04/09/2015 - 08:46):https://sti.eduscol.education.fr/actualites/congres-international-de-metrologie-cim-2015

Liens
[1] https://sti.eduscol.education.fr/system/files/images/actualites/6251/6251-congres-international-de-metrologie-cim-2015.jpg [2] https://sti.eduscol.education.fr/utilisateurs/jean-christophe-duchateau?node=6251 [3] http://www.metrologie2015.com/ [4] https://sti.eduscol.education.fr/sites/eduscol.education.fr.sti/files/actualites/6251/6251-programme-2015-fr.pdf